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        產品中心

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        當前位置:首頁產品中心表面分析離子源系統C60 40C60-40 離子源系統

        C60-40 離子源系統
        產品簡介

        C60-40 離子源系統 是目前性能較高的C60光束,具有300納米的光斑尺寸和高達1毫安的束流。從生物醫學應用到聚合物科學和冶金,C60-40都可以做到這一點。得益于與其他C60離子束相同的均勻濺射,但由于更高的束能量,C60-40具有難以置信的精細斑點和更高的蝕刻率,是一種用于廣泛應用的極其強大的分析工具。

        產品型號:C60 40
        更新時間:2025-04-10
        廠商性質:代理商
        訪問量:3379
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        簡介

        C60-40 離子源系統 是目前性能較高的C60光束,具有300納米的光斑尺寸和高達1毫安的束流。

        從生物醫學應用到聚合物科學和冶金,C60-40都可以做到這  一點。得益于與其他C60離子束相同的均勻濺射,但由于更高 的束能量,C60-40具有難以置信的精細斑點和更高的蝕刻率,是一種用于廣泛應用的極其強大的分析工具。 

        C60-40 離子源系統 是一款出色的全能型產品,Ionoptika銷售的每臺J105SIMS儀器中都包含C60-40。

               

         

        主要參數


        主要應用                分析            
        光斑尺寸                300 µm                
        掃描范圍                1 x 1 mm                
        能耗范圍                10 – 40 kV                
        電流范圍                1 nA                
        法蘭至機頭長度                168 ± 5 mm               
        推薦工作距離                22 ± 2 mm                
        電源裝置                6U x 19’’ rack mountable unit    
        電源要求                110-240VAC 13A 50/60Hz                
        軟件要求                        PC running Windows 10 or later                   
        集成法蘭規格                NW 63 CF                














        特點:  

        ◇  用于 SIMS 分析的出色的全部方位離子束;

        ◇  小光斑尺寸可達 300 nm;

        ◇  電流高達 1 nA

        ◇  Wien濾波器,用于在直流和脈沖操作過程中進行質量濾波;

        ◇  提供快速脈沖、脈沖串、光柵和二次電子檢測功能;

        ◇  閘閥,便于快速維修



        應用技術: 

        下圖顯示了C60-40在正離子模式下獲得的半導體堆棧的3D SIMS圖像。樣品由InSb、Al和GaAs層組成,覆蓋在保護性光刻膠層中。

        這種軟有機、無機和硬金屬層的結合對于大多數其他離子束來說是極其困難的。C60-40是這一棘手應用的理想選擇,因 為它在不同材料上具有一致的濺射速率。C60-40與300  nm的光斑尺寸相結合,是一種強大的光束,無論您使用何種類型的樣品,都能在2D和3D中提供較高分辨率。


                 

                       


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